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Installieren Sie die LibKey Nomad-Browsererweiterung und erhalten Sie von vielen Webseiten einfachen Zugriff auf lizenzierte Volltexte oder Open Access Publikationen. Mehr erfahren...IEEE transactions on electromagnetic compatibility, 2023-06, Vol.65 (3), p.780-793
2023
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IEEE transactions on electromagnetic compatibility, 2019-12, Vol.61 (6), p.1733-1739
2019
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EMC Assessment at Chip and PCB Level: Use of the ICEM Model for Jitter Analysis in an Integrated PLL
2007
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IEEE transactions on electromagnetic compatibility, 2020-08, Vol.62 (4), p.997-1006
2020
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IEEE transactions on electromagnetic compatibility, 2008-02, Vol.50 (1), p.52-62
2008
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IEEE transactions on electromagnetic compatibility, 2015-10, Vol.57 (5), p.955-962
2015
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IEEE transactions on instrumentation and measurement, 2015-09, Vol.64 (9), p.2496-2503
2015
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Microelectronics and reliability, 2011-09, Vol.51 (9-11), p.1493-1497
2011
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Microelectronics and reliability, 2009-09, Vol.49 (9), p.963-966
2009
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2018 IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility and 2018 IEEE Asia-Pacific Symposium on Electromagnetic Compatibility (EMC/APEMC), 2018, p.695-700
2018
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2015 10th International Workshop on the Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits (EMC Compo), 2015, p.252-257
2015
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Microelectronics and reliability, 2015-08, Vol.55 (9-10), p.2067-2071
2015
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Microelectronics, 2004-06, Vol.35 (6), p.501-507
2004
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2007 18th International Zurich Symposium on Electromagnetic Compatibility, 2007, p.79-82
2007
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2008 Asia-Pacific Symposium on Electromagnetic Compatibility and 19th International Zurich Symposium on Electromagnetic Compatibility, 2008, p.36-39
2008
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Microelectronics, 2004-06, Vol.35 (6), p.541-546
2004
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2004 IEEE International Symposium on Industrial Electronics, 2004, Vol.1, p.193-198 vol. 1
2004
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2007 IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility, 2007, p.1-5
2007
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10th International Symposium on Electromagnetic Compatibility, 2011, p.310-315
2011
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Revue de l'Electricité et de l'Electronique, 2000, Vol.- (7), p.39
2000
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2004 International Symposium on Electromagnetic Compatibility (IEEE Cat. No.04CH37559), 2004, Vol.3, p.969-973 vol.3
2004
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Électronique, 2004-08
2004
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Design, Automation, and Test in Europe: Proceedings of the conference on Design, automation and test in Europe; 04-08 Mar. 2002, 2002, p.1115
2002
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- Baubérot, Jean
- Bhargava, Rajeev
- Bras, Hervé Le
- Castells, Manuel
- Delmas-Marty, Mireille
- Descola, Philippe
- Dozon, Jean-Pierre
- d’Iribarne, Alain
- Fleurbaey, Marc
- Foucher, Michel
- Fraser, Nancy
- Frydman, René
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- Jullien, François
- Lee, Yuan Tseh
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2015
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