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2009
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IEEE electron device letters, 2016-02, Vol.37 (2), p.176-178
2016
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IEEE transactions on electron devices, 2009-09, Vol.56 (9), p.1959-1965
2009
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IEEE transactions on electron devices, 2009-09, Vol.56 (9), p.2045-2051
2009
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Microelectronics and reliability, 2018-02, Vol.81, p.226-231
2018
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IEEE electron device letters, 2008-01, Vol.29 (1), p.106-108
2008
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IEEE electron device letters, 2018-11, Vol.39 (11), p.1644-1647
2018
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2021 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2021, p.1-6
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2020 IEEE Symposium on VLSI Technology, 2020, p.1-2
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2019 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2019, p.1-6
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2006 IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings, 2006, p.18-28
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2008 International Symposium on VLSI Technology, Systems and Applications (VLSI-TSA), 2008, p.85-86
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2007 International Symposium on VLSI Technology, Systems and Applications (VLSI-TSA), 2007, p.1-2
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1993
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2007 International Symposium on VLSI Technology, Systems and Applications (VLSI-TSA), 2007, p.1-2
2007
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2006 International Electron Devices Meeting, 2006, p.1-4
2006
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2007 International Symposium on VLSI Technology, Systems and Applications (VLSI-TSA), 2007, p.1-2
2007
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IEEE electron device letters, 1990-05, Vol.11 (5), p.203-205
1990
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