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2008 IEEE International Conference on Integrated Circuit Design and Technology and Tutorial, 2008, p.9-12
2008
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2003 IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings, 2003. 41st Annual, 2003, p.303-306
2003
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Journal of the Electrochemical Society, 2004, Vol.151 (10), p.G683
2004
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Microelectronics and reliability, 2003-05, Vol.43 (5), p.735-739
2003
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Japanese Journal of Applied Physics, 2003, Vol.42 (Part 1, No. 4B), p.1892-1896
2003
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2000 IEEE International Integrated Reliability Workshop Final Report (Cat. No.00TH8515), 2000, p.125-128
2000
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2001 International Semiconductor Device Research Symposium. Symposium Proceedings (Cat. No.01EX497), 2001, p.38-41
2001
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Nature communications, 2020-11, Vol.11 (1), p.5721-5721, Article 5721
2020
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Nature communications, 2020-02, Vol.11 (1), p.710-710, Article 710
2020
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2000 IEEE International Integrated Reliability Workshop Final Report (Cat. No.00TH8515), 2000, p.116-119
2000
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