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Journal of research of the National Institute of Standards and Technology, 1993-07, Vol.98 (4), p.415-445
1993
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IEEE transactions on electron devices, 1989-11, Vol.36 (11), p.2452-2457
1989
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Fine-Line Metrology
Concise Encyclopedia of Semiconducting Materials & Related Technologies, 1992, p.176-184
1992
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IEEE transactions on electron devices, 1980-01, Vol.27 (1), p.32-36
1980
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IEEE transactions on electron devices, 1980-09, Vol.27 (9), p.1795-1798
1980
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Journal of research of the National Bureau of Standards (1977), 1987-05, Vol.92 (3), p.187-204
1987
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IEEE transactions on microwave theory and techniques, 1966-07, Vol.14 (7), p.306-310
1966
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IEEE transactions on microwave theory and techniques, 1967-06, Vol.15 (6), p.382-384
1967
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IEEE transactions on electron devices, 1966-01, Vol.ED-13 (1), p.121-131
1966
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IEEE transactions on electron devices, 1970-04, Vol.17 (4), p.271-274
1970
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Contributors
IEEE transactions on microwave theory and techniques, 1966-07, Vol.14 (7), p.354-355
1966
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Electronics letters, 1969-01, Vol.5 (4), p.81
1969
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