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Improving Mandatory Access Control for HPC clusters
Future generation computer systems, 2013-03, Vol.29 (3), p.876-885
2013
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A new non-volatile memory architecture embedding microbatteries to improve data retention criterion
Solid-state electronics, 2014-11, Vol.101, p.79-84
2014
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Open Access
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Push the flash floating gate memories toward the future low energy application
Solid-state electronics, 2013-01, Vol.79, p.210-217
2013
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A Modelisation of the temperature dependence of the Fowler–Nordheim current in EEPROM memories
Microelectronics and reliability, 2009-09, Vol.49 (9), p.1070-1073
2009
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Data retention under gate stress on a NVM array
Solid-state electronics, 2012-12, Vol.78, p.80-86
2012
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Leakage paths identification in NVM using biased data retention
Microelectronics and reliability, 2010-09, Vol.50 (9), p.1474-1478
2010
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Modeling charge variation during data retention of MLC Flash memories
Microelectronics and reliability, 2009-09, Vol.49 (9), p.1060-1063
2009
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Bayesian estimation of flock-level sensitivity of detection of Salmonella spp., Enteritidis and Typhimurium according to the sampling procedure in French laying-hen houses
Preventive veterinary medicine, 2008-04, Vol.84 (1), p.11-26
2008
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Thermal behavior of floating gate oxide defects (moving bits)
Journal of non-crystalline solids, 2007-04, Vol.353 (5), p.615-619
2007
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Extraction of 3D parasitic capacitances in 90 nm and 22 nm NAND flash memories
Microelectronics and reliability, 2009, Vol.49 (9), p.1056-1059
2009
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Tunneling injection temperature dependence in EEPROM cell
Journal of non-crystalline solids, 2007-04, Vol.353 (5), p.648-652
2007
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An experimental method allowing quantifying and localizing failed cells of an EEPROM CAST after a retention test
Solid-state electronics, 2008-10, Vol.52 (10), p.1550-1554
2008
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Extraction of 3D parasitic capacitances in 90nm and 22nm NAND flash memories
Microelectronics and reliability, 2009-09, Vol.49 (9-11), p.1056-1059
2009
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  • BibTeX
An evaluation of the extrinsic cells number in a memory array using cross-correlation products and deconvolution: an instance of a microelectronics experimental inverse problem
Inverse problems in science and engineering, 2011-12, Vol.19 (8), p.1043-1062
2011
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German Castles, Customs, and Culture: Introducing a New Approach to the Undergraduate Culture Course
Die Unterrichtspraxis, 2008-09, Vol.41 (2), p.124-133
2008
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Impact of stress on Fowler–Nordheim parameters effects on EEPROM threshold voltage
Journal of non-crystalline solids, 2007-04, Vol.353 (5), p.610-614
2007
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  • BibTeX
A new method to quantify retention-failed cells of an EEPROM CAST
Microelectronics and reliability, 2007-09, Vol.47 (9), p.1609-1613
2007
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Open Access
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  • BibTeX
Origin and repartition of the oxide fixed charges generated by electrical stress in memory tunnel oxide
Applied physics letters, 2004-05, Vol.84 (21), p.4251-4253
2004
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Deterioration of stressed oxides: Application to the prediction of a non-volatile memory cell endurance
Journal of non-crystalline solids, 2005-07, Vol.351 (21), p.1878-1884
2005
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Evaluation of a French ELISA for the detection of Salmonella Enteritidis and Salmonella Typhimurium in flocks of laying and breeding hens
Preventive veterinary medicine, 2005-09, Vol.71 (1), p.91-103
2005
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Non-volatile memory cell design: Coupling ratio impact on tunnel oxide reliability
Journal of non-crystalline solids, 2005-07, Vol.351 (21), p.1873-1877
2005
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  • BibTeX
EEPROM cell design: paradoxical choice of the coupling ratio
Journal of non-crystalline solids, 2003-07, Vol.322 (1), p.246-249
2003
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In Pursuit of Cultural Competence in the German Language Classroom: Recommendations of the AATG Task Force on the Teaching of Culture
Die Unterrichtspraxis, 2005-10, Vol.38 (2), p.172-181
2005
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Security and Results of a Large-Scale High-Interaction Honeypot
Journal of computers, 2009-05, Vol.4 (5), p.395-404
2009
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  • BibTeX
Measuring the need for cognition: Item polarity, dimensionality, and the relation with ability
Personality and individual differences, 2006-03, Vol.40 (4), p.819-828
2006
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