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Optimal hybridization and amortized cost study of battery/supercapacitors system under pulsed loads
Journal of energy storage, 2016-05, Vol.6, p.222-231
2016
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On the Role of NBTI and PBTI Induced Mobility Degradation for Compact Modeling in Metal-Gate/High-k FETs
2023 IEEE International Integrated Reliability Workshop (IIRW), 2023, p.1-7
2023
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RF Small and large signal characterization of a 3D integrated GaN/RF-SOI SPST switch
International journal of microwave and wireless technologies, 2021-07, Vol.13 (6), p.517-522
2021
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Comparison of modeling approaches for transistor degradation: model card adaptations vs subcircuits
ESSDERC 2019 - 49th European Solid-State Device Research Conference (ESSDERC), 2019, p.186-189
2019
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Hot carrier injection and negative bias temperature instability induced NMOS and PMOS degradation on CMOS Ring Oscillator
2016 Annual Reliability and Maintainability Symposium (RAMS), 2016, p.1-7
2016
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Reliability analysis of BiCMOS SiGe:C technology under aggressive conditions for emerging RF and mm-wave applications: proposal of reliability-aware circuit design methodology
International journal of microwave and wireless technologies, 2018-06, Vol.10 (5-6), p.690-699
2018
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Reliability of High-Power Mechatronic Systems 1: Aerospace and Automotive Applications: Simulation, Modeling and Optimization
1, 2017
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RF SPST Switch Based on Innovative Heterogeneous GaN/SOI Integration Technique
2020 15th European Microwave Integrated Circuits Conference (EuMIC), 2021, p.117-120
2021
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Simulation and analysis of DC and RF performances degradation of NMOS transistors under hot carrier injection mechanism
IECON 2017 - 43rd Annual Conference of the IEEE Industrial Electronics Society, 2017, p.7969-7973
2017
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Reliability analysis of low noise amplifiers for wireless applications under high RF power stressing
2017 International Conference on Advanced Technologies for Communications (ATC), 2017, p.132-135
2017
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Performance analysis of a lead-acid battery/supercapacitors hybrid and a battery stand-alone under pulsed loads
2014 First International Conference on Green Energy ICGE 2014, 2014, p.273-278
2014
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Hot carrier injection effect on threshold voltage of NMOSFETs
2015 11th Conference on Ph.D. Research in Microelectronics and Electronics (PRIME), 2015, p.164-167
2015
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Reliability analysis of BiCMOS SiGe:C technology under aggressive conditions for emerging RF and mm-Wave applications
2017 12th European Microwave Integrated Circuits Conference (EuMIC), 2017, p.147-150
2017
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8 - Simulation of Degradation Phenomena in Semiconductor Components in order to Ensure the Reliability of Integrated Circuits
Reliability of High-Power Mechatronic Systems 1, 2017, p.143-185
2017
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Simulation of Degradation Phenomena in Semiconductor Components in order to Ensure the Reliability of Integrated Circuits
Reliability of High-Power Mechatronic Systems 1, 2017
2017
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