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2013
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2009
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2020
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2009
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IEEE electron device letters, 2009-09, Vol.30 (9), p.901-903
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IEEE electron device letters, 2009-02, Vol.30 (2), p.103-106
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2018 IEEE SENSORS, 2018, p.1-3
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Solid-state electronics, 2011-03, Vol.57 (1), p.14-18
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Microelectronics and reliability, 2014-07, Vol.54 (6-7), p.1288-1292
2014
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Microelectronics and reliability, 2014-06, Vol.54 (6-7), p.1288-1292
2014
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IEEE electron device letters, 2009, Vol.30 (9), p.901-903
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IEEE electron device letters, 2006-06, Vol.27 (6), p.425-427
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Journal of vacuum science & technology. A, Vacuum, surfaces, and films, 1992-11, Vol.10 (6), p.3414-3418
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Microelectronics and reliability, 2009, Vol.49 (9-11), p.1211-1215
2009
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Frequenz, 2009, Vol.63 (3-4), p.55-59
2009
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German Microwave Conference Digest of Papers, 2010, p.36-38
2010
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IEEE transactions on electron devices, 1992-02, Vol.39 (2), p.444-447
1992
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2006 European Microwave Conference, 2006, p.1716-1718
2006
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