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Microelectronics and reliability, 2008-11, Vol.48 (11), p.1822-1830
2008
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Microelectronics and reliability, 2023-11, Vol.150, p.115107, Article 115107
2023
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Microelectronics and reliability, 2010-09, Vol.50 (9), p.1641-1644
2010
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