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Journal of low power electronics and applications, 2023-03, Vol.13 (1), p.1
2023
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Microprocessors and microsystems, 2016-11, Vol.47 (Part A), p.23-36
2016
Volltextzugriff (PDF)

IEEE transactions on circuits and systems, 2007-11, Vol.54 (11), p.2365-2379, Article 2365
2007
Volltextzugriff (PDF)

IEEE transactions on nuclear science, 2023-08, Vol.70 (8), p.1-1
2023
Volltextzugriff (PDF)

IEEE transactions on computers, 2006-09, Vol.55 (9), p.1104-1115
2006
Volltextzugriff (PDF)

IEEE transactions on computers, 2008-11, Vol.57 (11), p.1528-1539
2008
Volltextzugriff (PDF)

Proceedings of the conference on Design, Automation & Test in Europe, 2014, p.1-4
2014
Volltextzugriff (PDF)


Information security journal., 2013-01, Vol.22 (5-6), p.237-243
2013
Volltextzugriff (PDF)

2021 IEEE International Test Conference (ITC), 2021, p.344-353
2021
Volltextzugriff (PDF)


IEEE transactions on computers, 2007-10, Vol.56 (10), p.1431-1434
2007
Volltextzugriff (PDF)


IEEE transactions on nuclear science, 2010-08, Vol.57 (4), p.1992-1999
2010
Volltextzugriff (PDF)


2022 17th Conference on Ph.D Research in Microelectronics and Electronics (PRIME), 2022, p.225-228
2022
Volltextzugriff (PDF)

IEEE transactions on nuclear science, 2013-08, Vol.60 (4), p.2734-2741
2013
Volltextzugriff (PDF)

IEEE transactions on nuclear science, 2006-08, Vol.53 (4), p.2069-2075
2006
Volltextzugriff (PDF)


Advances in Science, Technology and Engineering Systems Journal (ASTESJ), 2018, Vol.3 (1), p.426-433
2018
Volltextzugriff (PDF)

Proceedings IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems, 2000, p.405-413
2000
Volltextzugriff (PDF)


IEEE transactions on nuclear science, 2012-08, Vol.59 (4), p.980-987
2012
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Électronique, 2021-09
2021
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