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2005
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IEEE transactions on nuclear science, 2005-10, Vol.52 (5), p.1497-1503
2005
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IEEE transactions on nuclear science, 2000-12, Vol.47 (6), p.2183-2188
2000
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IEEE transactions on nuclear science, 2000-12, Vol.47 (6), p.2175-2182
2000
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Microelectronics and reliability, 2007-09, Vol.47 (9), p.1827-1835
2007
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IEEE transactions on nuclear science, 2008-12, Vol.55 (6), p.3060-3069
2008
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IEEE transactions on nuclear science, 2004-10, Vol.51 (5), p.2908-2911
2004
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IEEE transactions on nuclear science, 2013-08, Vol.60 (4), p.2590-2597
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1999
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- Chollet, C.
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- Miquel, J. L.
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- Raimbourg, J.
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- Richard, A.
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- Seaux, J. P.
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2008
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IEEE transactions on nuclear science, 1996-12, Vol.43 (6), p.2651-2658
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1998
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1998
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- Bourgade, J. L.
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- Baggio, J.
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- Bonneau, F.
- Chollet, C.
- Darbon, S.
- Disdier, L.
- Gontier, D.
- Houry, M.
- Jacquet, H. P.
- Jadaud, J. P.
- Leray, J. L.
- Masclet-Gobin, I.
- Negre, J. P.
- Raimbourg, J.
- Villette, B.
- Bertron, I.
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- Favier, J. M.
- Gazave, J.
- Gomme, J. C.
- Malaise, F.
- Seaux, J. P.
- Glebov, V. Yu
- Jaanimagi, P.
- Stoeckl, C.
- Sangster, T. C.
- Pien, G.
- Lerche, R. A.
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2004
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IEEE transactions on nuclear science, 2000-06, Vol.47 (3), p.620-626
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1999
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1991
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IEEE Transactions on Nuclear Science (Institute of Electrical and Electronics Engineers); (United States), 1994-06, Vol.41 (3), p.473-478
1994
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IEEE Transactions on Nuclear Science (Institute of Electrical and Electronics Engineers); (United States), 1994-06, Vol.41 (3), p.495-502
1994
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IEEE Transactions on Nuclear Science (Institute of Electrical and Electronics Engineers); (United States), 1994-06, Vol.41 (3), p.466-472
1994
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IEEE transactions on nuclear science, 2000-06, Vol.47 (3), p.613-619
2000
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IEEE transactions on nuclear science, 1996-12, Vol.43 (6), p.2547-2557
1996
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IEEE Transactions on Nuclear Science (Institute of Electrical and Electronics Engineers); (United States), 1994-06, Vol.41 (3), p.607-612
1994
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