Sie befinden Sich nicht im Netzwerk der Universität Paderborn. Der Zugriff auf elektronische Ressourcen ist gegebenenfalls nur via VPN oder Shibboleth (DFN-AAI) möglich. mehr Informationen...
Sortiert nach
Einfacher Volltextzugriff von (fast) überall
Installieren Sie die LibKey Nomad-Browsererweiterung und erhalten Sie von vielen Webseiten einfachen Zugriff auf lizenzierte Volltexte oder Open Access Publikationen. Mehr erfahren...
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
Design-in-Reliable Millimeter-Wave Power Amplifiers in a 65-nm CMOS Process
IEEE transactions on microwave theory and techniques, 2012-04, Vol.60 (4), p.1079-1085
2012
Volltextzugriff (PDF)
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
Hot-Carrier Stress Effect on a CMOS 65-nm 60-GHz One-Stage Power Amplifier
IEEE electron device letters, 2010-09, Vol.31 (9), p.927-929
2010
Volltextzugriff (PDF)
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
"65 nm, 45 nm and 32 nm Aluminium and Copper Transmission Line Model at Millimeter Wave Frequencies"
IEEE transactions on microwave theory and techniques, 2010-09, Vol.58 (9), p.2426-2433
2010
Volltextzugriff (PDF)
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
“Hot Carrier Stress Effect on a CMOS 65 nm 60 GHz One Stage Power Amplifier” , vol. 31, no. 9, pp. 927-929, Sept. 2010
IEEE electron device letters, 2010-09, Vol.31 (9), p.927-929
2010
Volltextzugriff (PDF)
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
CMOS 45-nm 3D metal-oxide-metal capacitors for millimeter wave applications
Microwave and optical technology letters, 2011-07, Vol.53 (7), p.1476-1478
2011
Volltextzugriff (PDF)
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
HBT reliability modeling strategy for BICMOS RF and mmW applications
2012 IEEE International Integrated Reliability Workshop Final Report, 2012, p.109-112
2012
Volltextzugriff (PDF)
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
Design-in reliability approach for Hot Carrier injection modeling in the context of AMS/RF applications
2011 International Reliability Physics Symposium, 2011, p.5A.5.1-5A.5.7
2011
Volltextzugriff (PDF)
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
A CMOS class-A 65nm power amplifier for 60 GHz applications
2010 Topical Meeting on Silicon Monolithic Integrated Circuits in RF Systems (SiRF), 2010, p.120-123
2010
Volltextzugriff (PDF)
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
DC hot carrier stress effect on CMOS 65nm 60 GHz power amplifiers
2010 IEEE Radio Frequency Integrated Circuits Symposium, 2010, p.351-354
2010
Volltextzugriff (PDF)
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
Reliability study under DC stress on mmW LNA, Mixer and VCO
2012 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2012, p.CR.4.1-CR.4.5
2012
Volltextzugriff (PDF)
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
Low Noise Low Cost Rx Solutions for Pulsed 24GHz Automotive Radar Sensors
2007 IEEE Radio Frequency Integrated Circuits (RFIC) Symposium, 2007, p.387-390
2007
Volltextzugriff (PDF)
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
Low-cost fully integrated BiCMOS transceiver for pulsed 24-GHz automotive radar sensors
2008 IEEE Custom Integrated Circuits Conference, 2008, p.475-478
2008
Volltextzugriff (PDF)
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
A SPDT switch in a standard 45 nm CMOS process for 94 GHz Applications
The 40th European Microwave Conference, 2010, p.425-428
2010
Volltextzugriff (PDF)
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
Methodology of design of millimeter wave power amplifiers complying with 125°C electromigration design rules in advanced CMOS technology
2010 IEEE 11th Annual Wireless and Microwave Technology Conference (WAMICON), 2010, p.1-4
2010
Volltextzugriff (PDF)
    Datensatz exportieren als...
  • BibTeX
TFMS Microstrip line modelling and characterization up to 110 GHz on 45 nm node silicon technology: application for CAD
2010 Topical Meeting on Silicon Monolithic Integrated Circuits in RF Systems (SiRF), 2010, p.4-7
2010
Volltextzugriff (PDF)
1 – 15 von 15
Suche als RSS-Feed
Suchergebnisse filtern
Filter anzeigen