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Microelectronic engineering, 2011-11, Vol.88 (11), p.3267-3269
2011
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Microelectronics and reliability, 2014-06, Vol.54 (6-7), p.1452-1454
2014
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Microelectronic engineering, 2011, Vol.88 (11), p.3267-3269
2011
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Microelectronics and reliability, 2014-07, Vol.54 (6-7), p.1452-1454
2014
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