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Journal of applied physics, 2017-08, Vol.122 (7)
2017
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IEEE transactions on electron devices, 2018-04, Vol.65 (4), p.1480-1486
2018
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2017 IEEE 24th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), 2017, p.1-3
2017
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2020 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2020, p.1-5
2020
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Materials science in semiconductor processing, 2016-01, Vol.41, p.485-490
2016
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2018 China Semiconductor Technology International Conference (CSTIC), 2018, p.1-3
2018
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