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Hall Effect in Thin-Film Transistor
IEEE transactions on electron devices, 2016-08, Vol.63 (8), p.3335-3337
2016
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Journal of the Japan Society for Precision Engineering, 2003/06/05, Vol.69(6), pp.831-835
2003
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Journal of the Japan Society for Precision Engineering, 2002/03/05, Vol.68(3), pp.392-396
2002
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SID International Symposium Digest of technical papers, 2005-05, Vol.36 (1), p.411-413
2005
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2015 IEEE International Meeting for Future of Electron Devices, Kansai (IMFEDK), 2015, p.78-79
2015
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2014 IEEE International Meeting for Future of Electron Devices, Kansai (IMFEDK), 2014, p.1-2
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Journal of the Japan Society for Precision Engineering, 2000/04/05, Vol.66(4), pp.612-616
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1998
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SID International Symposium Digest of technical papers, 2016-05, Vol.47 (1), p.1231-1233
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2017 IEEE International Meeting for Future of Electron Devices, Kansai (IMFEDK), 2017, p.104-105
2017
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精密工学会誌, 1998/08/05, Vol.64(8), pp.1153-1157
1998
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Seimitsu Kōgakkaishi, 1998, Vol.64 (8), p.1153-1157
1998
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