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A model for SIMOX buried-oxide low-field conduction and trapping

1997 IEEE International SOI Conference Proceedings, 1997, p.50-51

Krska, J.-H.Y.
Yoon, J.U.
Chung, J.E.

1997

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A model for SIMOX buried-oxide high-field conduction

IEEE transactions on electron devices, 1996-11, Vol.43 (11), p.1956-1964

Krska, J.-H.Y.
Yoon, J.U.
Nee, J.T.
Roitman, P.
Campisi, G.J.
Brown, G.A.
Chung, J.E.

1996

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Impact of supplemental Si implantation into SIMOX buried oxide

1996 IEEE International SOI Conference Proceedings, 1996, p.166-167

Krska, J.-H.Y.
Yoon, J.U.
Kim, G.N.
Joyner, K.
Nauka, K.
Chung, J.E.

1996

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Impact of supplemental Si implantation into SIMOX buried oxide

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