Sie befinden Sich nicht im Netzwerk der Universität Paderborn. Der Zugriff auf elektronische Ressourcen ist gegebenenfalls nur via VPN oder Shibboleth (DFN-AAI) möglich. mehr Informationen...
Defect-oriented cell-internal testing
2010 IEEE International Test Conference, 2010, p.1-10
2010


2013 IEEE 16th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS), 2013, p.42-47
2013

2012 15th Euromicro Conference on Digital System Design, 2012, p.823-829
2012

12th IEEE European Test Symposium (ETS'07), 2007, p.137-144
2007

2012 IEEE 15th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS), 2012, p.230-235
2012