Sortiert nach
Einfacher Volltextzugriff von (fast) überall
Installieren Sie die LibKey Nomad-Browsererweiterung und erhalten Sie von vielen Webseiten einfachen Zugriff auf lizenzierte Volltexte oder Open Access Publikationen. Mehr erfahren...Microelectronic engineering, 2020-02, Vol.223, p.111230, Article 111230
2020
Volltextzugriff (PDF)
Journal of applied physics, 2018-06, Vol.123 (21)
2018
Volltextzugriff (PDF)
Electronics letters, 2014-05, Vol.50 (10), p.766-768
2014
Volltextzugriff (PDF)
Journal of micromechanics and microengineering, 2017-01, Vol.27 (1), p.14001
2017
Volltextzugriff (PDF)
Microelectronics and reliability, 2014-09, Vol.54 (9-10), p.2159-2163
2014
Volltextzugriff (PDF)
Applied physics letters, 2016-01, Vol.108 (4)
2016
Volltextzugriff (PDF)
Microelectronics and reliability, 2011-09, Vol.51 (9-11), p.1874-1877
2011
Volltextzugriff (PDF)
Microelectronics and reliability, 2012-09, Vol.52 (9-10), p.2267-2271
2012
Volltextzugriff (PDF)
Microelectronics and reliability, 2012-09, Vol.52 (9-10), p.2240-2244
2012
Volltextzugriff (PDF)
Journal of micromechanics and microengineering, 2014-11, Vol.24 (11), p.115017
2014
Volltextzugriff (PDF)
Thin solid films, 2014-07, Vol.563, p.32-35
2014
Volltextzugriff (PDF)
Microelectronics and reliability, 2010-09, Vol.50 (9), p.1615-1620
2010
Volltextzugriff (PDF)
Applied physics letters, 2011-09, Vol.99 (10), p.103503-103503-3
2011
Volltextzugriff (PDF)
Microelectronics and reliability, 2021-11, Vol.126, p.114294, Article 114294
2021
Volltextzugriff (PDF)
Microelectronic engineering, 2014-11, Vol.130, p.69-73
2014
Volltextzugriff (PDF)
Microelectronics and reliability, 2013-09, Vol.53 (9-11), p.1655-1658
2013
Volltextzugriff (PDF)
Microelectronics and reliability, 2020-11, Vol.114, p.113759, Article 113759
2020
Volltextzugriff (PDF)
IEEE transactions on microwave theory and techniques, 2009-12, Vol.57 (12), p.3518-3524
2009
Volltextzugriff (PDF)
Microelectronics and reliability, 2012-09, Vol.52 (9-10), p.2508-2511
2012
Volltextzugriff (PDF)
Microelectronics and reliability, 2020-11, Vol.114, p.113760, Article 113760
2020
Volltextzugriff (PDF)
Microelectronics and reliability, 2020-11, Vol.114, p.113878, Article 113878
2020
Volltextzugriff (PDF)
Microelectronic engineering, 2012-02, Vol.90 (Feb), p.72-75
2012
Volltextzugriff (PDF)
Microelectronics and reliability, 2017-09, Vol.76-77, p.631-634
2017
Volltextzugriff (PDF)
2011 International Reliability Physics Symposium, 2011, p.3D.4.1-3D.4.7
2011
Volltextzugriff (PDF)
Microelectronics and reliability, 2018-09, Vol.88-90, p.840-845
2018
Volltextzugriff (PDF)
Suchergebnisse filtern
Filter anzeigenNur zeigen
Publikationsform
Sprache
Erscheinungsjahr
n.n
n.n
Thema
- Science & Technology
- Physics
- Engineering
- Engineering, Electrical & Electronic
- Technology
- Physical Sciences
- Physics, Applied
- Nanoscience & Nanotechnology
- Science & Technology - Other Topics
- Dielectric Charging
- Exact Sciences And Technology
- Micromechanical Devices
- Reliability
- Applied Sciences
- Dielectrics
- Electronics
- Semiconductor Electronics. Microelectronics. Optoelectronics. Solid State Devices
- Switches
- Circuit Properties
- Electric, Optical And Optoelectronic Circuits
Kollektion
- IngentaConnect
- Elsevier ScienceDirect Journals Complete
- IEEE Electronic Library (IEL)
- Elsevier Journal Backfiles on ScienceDirect (DFG Nationallizenzen)
- Scitation (American Institute of Physics)
- Single Journals
- IngentaConnect Journals
- EZB Electronic Journals Library
- Wiley Online Library - AutoHoldings Journals
- Nexis Uni
Zeitschrift / Serie
- Microelectronics And Reliability
- Microelectronic Engineering
- Microelectronics Reliability/microelectronics And Reliability
- Applied Physics Letters
- Ieee Transactions On Microwave Theory And Techniques
- Journal Of Micromechanics And Microengineering
- Electronics Letters
- Facta Universitatis. Series Electronics And Energetics
- Journal Of Applied Physics
- Thin Solid Films