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Characteristics of spin-on ferroelectric SrBi2Ta2O9 thin film capacitors for ferroelectric random access memory applications
Journal of materials research, 1996-05, Vol.11 (5), p.1065-1068
1996
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Spontaneous oxide reduction in metal stacks
Thin solid films, 2005-02, Vol.473 (2), p.236-240
2005
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Transmission Electron Microscopy Studies of Strained Si CMOS
MRS proceedings, 2005, Vol.864, Article E4.31
2005
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Morphology, Defects and Thermal Stability of SiGe grown on SOI
MRS proceedings, 2005, Vol.864, Article E3.8
2005
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Surface Oxide Evolution on Al-Si Bond Wires
MRS proceedings, 2003, Vol.783, Article B7.11
2003
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Process Control of Epi-Layers for SiGe:C Hetero-Structure Bipolar Transistors
MRS proceedings, 2002, Vol.744, Article M2.9
2002
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Root-Cause Analysis and Statistical Process Control of Epilayers for SiGe:C Hetero-Structure Bipolar Transistors
AIP Conference Proceedings, 2003, Vol.683, p.228-232
2003
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Characteristics of spin-on ferroelectric SrBi 2 Ta 2 O 9 thin film capacitors for ferroelectric random access memory applications
Journal of materials research, 1996-05, Vol.11 (5), p.1065-1068
1996
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Solderability degradation models for fusible tin alloy coatings on copper substrates
IEEE transactions on components, hybrids, and manufacturing technology, 1988-09, Vol.11 (3), p.270-273
1988
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Identification of the Product of Photoswitching of an Oxazine Fluorophore Using Fourier Transform Infrared Difference Spectroscopy
The journal of physical chemistry letters, 2010-11, Vol.1 (21), p.3156-3159
2010
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