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IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems, 1997-09, Vol.5 (3), p.270-276
1997
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Journal of electronic packaging, 2007-06, Vol.129 (2), p.167-171
2007
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2009 25th Annual IEEE Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium, 2009, p.38-44
2009
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2008 14th International Workshop on Thermal Inveatigation of ICs and Systems, 2008, p.235-240
2008
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27th European Solid-State Device Research Conference, 1997, p.496-499
1997
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Microelectronics, 1999, Vol.30 (11), p.1109-1114
1999
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Semiconductor Thermal Measurement and Management IEEE Twenty First Annual IEEE Symposium, 2005, 2005, p.135-140
2005
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Microelectronics and reliability, 1998-12, Vol.38 (12), p.1881-1891
1998
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Microelectronics, 1997-03, Vol.28 (3), p.317-325
1997
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Test structure for thermal monitoring
Proceedings of International Conference on Microelectronic Test Structures, 1996, p.111-115
1996
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