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2005
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Vacuum, 2004-12, Vol.77 (1), p.37-45
2004
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Thin solid films, 2004-07, Vol.459 (1), p.149-151
2004
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Instruments and experimental techniques (New York), 2004-01, Vol.47 (1), p.36-38
2004
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Czechoslovak journal of physics, 2004-01, Vol.54 (S3), p.C1006-C1010
2004
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Materials science in semiconductor processing, 2004, Vol.7 (4-6), p.265-269
2004
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Radiation measurements, 2003-06, Vol.37 (3), p.201-204
2003
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Technical physics letters, 2003-04, Vol.29 (4), p.312-315
2003
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Vacuum, 2003-03, Vol.70 (2-3), p.457-465
2003
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Vacuum, 2003-03, Vol.70 (2-3), p.313-317
2003
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International journal of mass spectrometry, 2002-11, Vol.221 (2), p.139-146
2002
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Vacuum, 2002-09, Vol.67 (3), p.567-570
2002
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The Fourth International Conference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystem, 2002, p.67-70
2002
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12th International Conference on Semiconducting and Insulating Materials, 2002. SIMC-XII-2002, 2002, p.114-117
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Solid state phenomena, 2002-01, Vol.82-84, p.529-532
2002
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Vacuum, 2001-08, Vol.63 (4), p.737-742
2001
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Vacuum, 2001-08, Vol.63 (4), p.501-505
2001
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Technical physics letters, 2001-08, Vol.27 (8), p.619-621
2001
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Technical physics, 2001-07, Vol.46 (7), p.897-904
2001
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Vacuum, 2001-05, Vol.62 (1), p.21-26
2001
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Nuclear instruments & methods in physics research. Section A, Accelerators, spectrometers, detectors and associated equipment, 2001-05, Vol.463 (1), p.309-315
2001
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Technical physics letters, 2000-11, Vol.26 (11), p.960-963
2000
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Vacuum, 2000-08, Vol.58 (2), p.428-433
2000
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Journal of applied physics, 2000-03, Vol.87 (5), p.2142-2148
2000
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ASDAM 2000. Conference Proceedings. Third International EuroConference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystems (Cat. No.00EX386), 2000, p.311-314
2000
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