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2013
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IEEE electron device letters, 2009-03, Vol.30 (3), p.285-287
2009
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IEEE electron device letters, 2009-03, Vol.30 (3), p.216-218
2009
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IEEE transactions on electron devices, 2006-05, Vol.53 (5), p.979-989
2006
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Microelectronic engineering, 2005-06, Vol.80, p.218-221
2005
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MRS proceedings, 2014, Vol.1691 (1), p.1-12, Article mrss14-1691-bb03-03
2014
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IEEE electron device letters, 2007-04, Vol.28 (4), p.308-311
2007
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IEEE electron device letters, 2008, Vol.29 (1), p.54-56
2008
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2009 Symposium on VLSI Technology, 2009, p.34-35
2009
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2007 IEEE Symposium on VLSI Technology, 2007, p.68-69
2007
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IEEE electron device letters, 2009-03, Vol.30 (3), p.285-287
2009
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IEEE electron device letters, 2008-01, Vol.29 (1), p.54-56
2008
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2007 IEEE Symposium on VLSI Technology, 2007, p.154-155
2007
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IEEE electron device letters, 2007-04, Vol.28 (4), p.308-311
2007
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2009 Symposium on VLSI Technology, 2009, p.238-239
2009
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2009 Proceedings of the European Solid State Device Research Conference, 2009, p.257-260
2009
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2008 IEEE International Reliability Physics Symposium, 2008, p.347-351
2008
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2009 Symposium on VLSI Technology, 2009, p.208-209
2009
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2008 Symposium on VLSI Technology, 2008, p.82-83
2008
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Proceedings of 35th European Solid-State Device Research Conference, 2005. ESSDERC 2005, 2005, p.367-370
2005
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2007 IEEE International Integrated Reliability Workshop Final Report, 2007, p.103-106
2007
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Surface science, 1999-10, Vol.440 (1-2), p.187-195
1999
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2009 Symposium on VLSI Technology, 2009, p.74-75
2009
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IEEE transactions on device and materials reliability, 2009-06, Vol.9 (2), p.171-179
2009
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2006 European Solid-State Device Research Conference, 2006, p.113-116
2006
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