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Korean Journal of Chemical Engineering, 2009, 26(3), 120, pp.824-827
2009
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Journal of vacuum science & technology. B, Microelectronics and nanometer structures processing, measurement and phenomena, 2008-03, Vol.26 (2), p.576-581
2008
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2001 International Semiconductor Device Research Symposium. Symposium Proceedings (Cat. No.01EX497), 2001, p.30-33
2001







Journal of vacuum science & technology. B, Microelectronics and nanometer structures processing, measurement and phenomena, 2009-01, Vol.27 (1), p.33-40
2009
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Journal of vacuum science & technology. B, Microelectronics and nanometer structures processing, measurement and phenomena, 2009-01, Vol.27 (1), p.33-40
2009
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Journal of vacuum science & technology. B, Microelectronics and nanometer structures processing, measurement and phenomena, 2008-03, Vol.26 (2), p.576-581
2008
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Journal of Vacuum Science & Technology B: Microelectronics and Nanometer Structures, 2000-03, Vol.18 (2), p.811-819
2000
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Journal of vacuum science & technology. B, Microelectronics and nanometer structures processing, measurement and phenomena, 2000-03, Vol.18 (2), p.811-819
2000
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ICVC '99. 6th International Conference on VLSI and CAD (Cat. No.99EX361), 1999, p.133-135
1999
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