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Installieren Sie die LibKey Nomad-Browsererweiterung und erhalten Sie von vielen Webseiten einfachen Zugriff auf lizenzierte Volltexte oder Open Access Publikationen. Mehr erfahren...Bias polarity and frequency effects of Cu-induced dielectric breakdown in damascene Cu interconnects
2012
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Thin solid films, 2012-10, Vol.521, p.146-149
2012
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Thin solid films, 2011-03, Vol.519 (11), p.3636-3640
2011
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Microelectronic engineering, 2012, Vol.89, p.109-115
2012
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2009 IEEE International Reliability Physics Symposium, 2009, p.825-827
2009
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Chemical vapor deposition, 2001-11, Vol.7 (6), p.242-245
2001
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Microelectronic engineering, 2012-01, Vol.89, p.109-115
2012
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2010 3rd International Nanoelectronics Conference (INEC), 2010, p.450-451
2010
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Electrochemical and solid-state letters, 2005, Vol.8 (10), p.C155
2005
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