Sortiert nach
Journal of medical entomology, 2020-11, Vol.57 (6), p.2011-2015
2020
Volltextzugriff (PDF)
Journal of medical entomology, 2020-11, Vol.57 (6), p.2011
2020
Volltextzugriff (PDF)
Revista chilena de entomología, 2019-05, Vol.45 (2), p.257-260
2019
Volltextzugriff (PDF)
Revista chilena de entomología, 2019-05, Vol.45 (2), p.257-260
2019
Volltextzugriff (PDF)
Advances in Artificial Intelligence - IBERAMIA-SBIA 2006, 2006, p.482-491
2006
Volltextzugriff (PDF)
IEEE transactions on electron devices, 1998-06, Vol.45 (6), p.1253-1262
1998
Volltextzugriff (PDF)
Transactions of the Association for Computational Linguistics, 2017-12, Vol.5, p.205-218
2017
Volltextzugriff (PDF)
Materials science & engineering. B, Solid-state materials for advanced technology, 2004-12, Vol.114, p.3-8
2004
Volltextzugriff (PDF)
IEEE electron device letters, 1997-07, Vol.18 (7), p.312-314
1997
Volltextzugriff (PDF)
Proceedings of the IEEE 2013 Custom Integrated Circuits Conference, 2013, p.1-4
2013
Volltextzugriff (PDF)
Digest of Technical Papers. 2005 Symposium on VLSI Technology, 2005, 2005, p.126-127
- Leobandung, E.
- Nayakama, H.
- Mocuta, D.
- Miyamoto, K.
- Angyal, M.
- Meer, H.V.
- McStay, K.
- Ahsan, I.
- Allen, S.
- Azuma, A.
- Belyansky, M.
- Bentum, R.-V.
- Cheng, J.
- Chidambarrao, D.
- Dirahoui, B.
- Fukasawa, M.
- Gerhardt, M.
- Gribelyuk, M.
- Halle, S.
- Harifuchi, H.
- Harmon, D.
- Heaps-Nelson, J.
- Hichri, H.
- Ida, K.
- Inohara, M.
- Inouc, I.C.
- Jenkins, K.
- Kawamura, T.
- Kim, B.
- Ku, S.-K.
- Kumar, M.
- Lane, S.
- Liebmann, L.
- Logan, R.
- Melville, I.
- Miyashita, K.
- Mocuta, A.
- O'Neil, P.
- Ng, M.-F.
- Nogami, T.
- Nomura, A.
- Norris, C.
- Nowak, E.
- Ono, M.
- Panda, S.
- Penny, C.
- Radens, C.
- Ramachandran, R.
- Ray, A.
- Rhee, S.-H.
- Ryan, D.
- Shinohara, T.
- Sudo, G.
- Sugaya, F.
- Strane, J.
- Tan, Y.
- Tsou, L.
- Wang, L.
- Wirbeleit, F.
- Wu, S.
- Yamashita, T.
- Yan, H.
- Ye, Q.
- Yoneyama, D.
- Zamdmer, D.
- Zhong, H.
- Zhu, H.
- Zhu, W.
- Agnello, P.
- Bukofsky, S.
- Bronner, G.
- Crabbe, E.
- Freeman, G.
- Huang, S.-F.
- Ivers, T.
- Kuroda, H.
- McHerron, D.
- Pellerin, J.
- Toyoshima, Y.
- Subbanna, S.
- Kepler, N.
- Su, L.
2005
Volltextzugriff (PDF)
Materials science & engineering. B, Solid-state materials for advanced technology, 2004-12, Vol.114-115, p.3-8
2004
Volltextzugriff (PDF)
IEEE electron device letters, 1997-07, Vol.18 (7), p.312-314
1997
Volltextzugriff (PDF)
2004 International Conference on Integrated Circuit Design and Technology (IEEE Cat. No.04EX866), 2004, p.65-71
2004
Volltextzugriff (PDF)
2005 IEEE International SOI Conference Proceedings, 2005, p.213-214
2005
Volltextzugriff (PDF)
1997 IEEE International Integrated Reliability Workshop Final Report (Cat. No.97TH8319), 1997, p.35-41
1997
Volltextzugriff (PDF)
2001 6th International Conference on Solid-State and Integrated Circuit Technology. Proceedings (Cat. No.01EX443), 2001, Vol.1, p.643-649 vol.1
2001
Volltextzugriff (PDF)
Japanese Journal of Applied Physics, 1997-09, Vol.36 (9AB), p.L1150-L1152
1997
Volltextzugriff (PDF)
Computational Processing of the Portuguese Language, p.248-251
Volltextzugriff (PDF)
IEEE InternationalElectron Devices Meeting, 2005. IEDM Technical Digest, 2005, p.233-236
- Su, L.T.
- Pellerin, J.
- Huang, S.F.
- Khare, M.
- Schepis, D.
- Rim, K.
- Liming, S.
- Waite, A.
- Sato, T.
- Panda, S.
- Nii, H.
- Lee, W.
- Holt, J.
- Fried, D.
- Chidambarrao, D.
- Chen, H.
- Kepler, N.
- Raab, M.
- Greenlaw, D.
- Stephan, R.
- Hubler, P.
- Ruelke, H.
- Herzog, O.
- Engelmann, H.-J.
- Schaller, M.
- Salz, H.
- Trui, B.
- Trentsch, M.
- Reichel, C.
- Press, P.
- Otterbach, R.
- Neu, A.
- Lenski, M.
- Koerner, G.
- Klais, J.
- Javorka, P.
- Hohage, J.
- Hempel, K.
- Hellmich, A.
- Gerhardt, M.
- Frohberg, K.
- Feudel, T.
- Bierstedt, H.
- Hontschel, J.
- Kammler, T.
- Wei, A.
- Horstmann, M.
2005
Volltextzugriff (PDF)
MRS proceedings, 1985, Vol.45, Article 291
1985
Volltextzugriff (PDF)
2001 IEEE International SOI Conference. Proceedings (Cat. No.01CH37207), 2001, p.1-4
2001
Volltextzugriff (PDF)
MRS proceedings, 1985, Vol.52, Article 383
1985
Volltextzugriff (PDF)
1997 IEEE International Integrated Reliability Workshop Final Report (Cat. No.97TH8319), 1997, p.45-46
1997
Volltextzugriff (PDF)
The Astronomical journal, 2018-12, Vol.156 (6), p.254
2018
Volltextzugriff (PDF)
Suchergebnisse filtern
Filter anzeigenNur zeigen
Publikationsform
Sprache
Erscheinungsjahr
n.n
n.n
Thema
Kollektion
- Elektronische Zeitschriftenbibliothek - Frei zugängliche E-Journals
- IngentaConnect
- Single Journals
- Journals@Ovid Ovid Full Text
- MEDLINE
- IngentaConnect Journals
- Access via Wiley Online Library
- SAGE Complete
- Access via Oxford University Press
- Access via ScienceDirect (Elsevier)
- SpringerNature Journals
- IEEE Xplore
- Elsevier Journal Backfiles on ScienceDirect (DFG Nationallizenzen)
- JSTOR
- Nature
- Nexis Uni
- Springer Book Series
- American Physical Society Journals
- Access via Taylor & Francis
- Oxford Journals 2020 Medicine
Zeitschrift / Serie
Neu hinzugefügt