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IEEE transactions on applied superconductivity, 2019-08, Vol.29 (5), p.1-5
2019
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2019 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2019, p.1781-1787
2019
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Journal of electronic testing, 2024-10
2024
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IEEE transactions on applied superconductivity, 2020-12, Vol.30 (8), p.1-8
2020
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IEEE transactions on applied superconductivity, 2021-08, Vol.31 (5), p.1-6
2021
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IEEE transactions on applied superconductivity, 2023-09, Vol.33 (6), p.1-8
2023
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IEEE transactions on applied superconductivity, 2023-08, Vol.33 (5), p.1-9
2023
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IEEE transactions on electron devices, 2008, Vol.55 (1), p.186-196
2008
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2024 25th International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED), 2024, p.1-8
2024
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IEEE transactions on electron devices, 2008-01, Vol.55 (1), p.186-196
2008
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2021 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD), 2021, p.107-110
2021
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IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems, 2010-03, Vol.18 (3), p.378-391
2010
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2015 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD), 2015, p.433-436
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Open Access
Managing on-chip inductive effects
IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems, 2002-12, Vol.10 (6), p.789-798
2002
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Annual ACM IEEE Design Automation Conference: Proceedings of the 38th conference on Design automation, 2001, p.804-809
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2020 17th Biennial Baltic Electronics Conference (BEC), 2020, p.1-5
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2019 IEEE International Superconductive Electronics Conference (ISEC), 2019, p.1-3
2019
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Circuit effects in static timing
Annual ACM IEEE Design Automation Conference: Proceedings of the 39th conference on Design automation : New Orleans, Louisiana, USA, 2002
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IEEE Custom Integrated Circuits Conference 2006, 2006, p.845-851
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2008 51st Midwest Symposium on Circuits and Systems, 2008, p.93-96
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2008 45th ACM/IEEE Design Automation Conference, 2008, p.498-503
2008
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