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On characterizing near-threshold SRAM failures in FinFET technology
2017 54th ACM/EDAC/IEEE Design Automation Conference (DAC), 2017, p.1-6
2017
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Resolving systematic voltage sensitive soft failures in 28nm microprocessor devices
Proceedings of the 21th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), 2014, p.9-12
2014
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Differentiating the relative importance of land cover change and geomorphic processes on fine sediment sequestration in a logged watershed
Geomorphology (Amsterdam, Netherlands), 2013-03, Vol.185, p.67-77
2013
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Designing in scaled technologies: 32 nm and beyond
2012 Symposium on VLSI Technology (VLSIT), 2012, p.147-148
2012
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