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  • BibTeX
On the ESD Behavior of Large-Area CVD Graphene Transistors: Physical Insights and Technology Implications
IEEE transactions on electron devices, 2019-01, Vol.66 (1), p.743-751
2019
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Drain-Extended FinFET With Embedded SCR (DeFinFET-SCR) for High-Voltage ESD Protection and Self-Protected Designs
IEEE transactions on electron devices, 2019-12, Vol.66 (12), p.5072-5079
2019
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  • BibTeX
Current Filament Dynamics Under ESD Stress in High Voltage (Bidirectional) SCRs and It's Implications on Power Law Behavior
2019 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2019, p.1-5
2019
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Physical Insights into the Low Current ESD Failure of LDMOS-SCR and its Implication on Power Scalability
2019 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2019, p.1-5
2019
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  • BibTeX
ESD Behavior of Tunnel FET Devices
IEEE transactions on electron devices, 2017-01, Vol.64 (1), p.28-36
2017
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Impact of Thin-oxide Gate on the On-Resistance of HV-PNP Under ESD Stress
2023 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2023, p.1-5
2023
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Current Scalability Issues in Multi-Bank 5V PMOS ESD structures: Root cause and Design Guideline
2023 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2023, p.1-4
2023
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  • BibTeX
Effect of Source & Drain Side Abutting on the Low Current Filamentation in LDMOS-SCR Devices
2022 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2022, p.6C.1-1-6C.1-6
2022
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  • BibTeX
Performance and Reliability Co-design of LDMOS-SCR for Self-Protected High Voltage Applications On-Chip
2019 31st International Symposium on Power Semiconductor Devices and ICs (ISPSD), 2019, p.407-410
2019
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  • BibTeX
How to Achieve Moving Current Filament in High Voltage LDMOS Devices: Physical Insights & Design Guidelines for Self-Protected Concepts
2020 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2020, p.1-6
2020
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  • BibTeX
Design Insights to Address Low Current ESD Failure and Power Scalability Issues in High Voltage LDMOS-SCR Devices
2020 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2020, p.1-5
2020
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  • BibTeX
On the ESD Reliability Issues in Carbon Electronics: Graphene and Carbon Nano Tubes
2018 31st International Conference on VLSI Design and 2018 17th International Conference on Embedded Systems (VLSID), 2018, p.469-470
2018
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  • BibTeX
ESD Behavior of Fin based Tunnel FETs
2022 IEEE International Conference on Emerging Electronics (ICEE), 2022, p.1-5
2022
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  • BibTeX
Insights into the System-Level IEC ESD Failure in High Voltage DeNMOS-SCR for Automotive Applications
2020 42nd Annual EOS/ESD Symposium (EOS/ESD), 2020, p.1-7
2020
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