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MRS bulletin, 2021-10, Vol.46 (10), p.978-986
2021
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IEEE electron device letters, 2004-05, Vol.25 (5), p.337-339
2004
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International journal of modeling, simulation and scientific computing, 2020-12, Vol.11 (6), p.2050050
2020
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Journal of physics. D, Applied physics, 2012-02, Vol.45 (6), p.65303-1-6
2012
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Journal of magnetism and magnetic materials, 2007, Vol.308 (1), p.85-89
2007
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2023 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD), 2023, p.133-136
2023
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2021 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2021, p.1-6
2021
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IEEE electron device letters, 2012-04, Vol.33 (4), p.585-587
2012
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Semiconductor science and technology, 2011-11, Vol.26 (11), p.115009
2011
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Semiconductor science and technology, 2011-11, Vol.26 (11)
2011
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IEEE electron device letters, 2010-05, Vol.31 (5), p.476-478
2010
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2010 Proceedings of the European Solid State Device Research Conference, 2010, p.392-395
2010
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