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Digital tomosynthesis in breast imaging
Radiology, 1997-11, Vol.205 (2), p.399
1997
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Reproducible sputtering and properties of Y-Ba-Cu-O films of various thicknesses
Journal of applied physics, 1988-12, Vol.64 (11), p.6388-6391
1988
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Microstructure and properties of superconducting sputter deposited Y–Ba–Cu–O films
Journal of materials research, 1989-04, Vol.4 (2), p.257-266
1989
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Measurement and analysis of hot-carrier-stress effect on NMOSFET's using substrate current characterization
IEEE electron device letters, 1986-07, Vol.7 (7), p.451-453
1986
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Quantum conductance fluctuations in self-aligned, pinch-narrowed silicon metal-oxide-semiconductor field-effect transistors
Journal of applied physics, 1992-08, Vol.72 (3), p.1183-1185
1992
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An investigation of a molybdenum gate for submicrometer CMOS
IEEE transactions on electron devices, 1988-09, Vol.35 (9), p.1432-1438
1988
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Buried-oxide isolation with etch-stop (BOXES)
IEEE electron device letters, 1988-02, Vol.9 (2), p.62-64
1988
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Conductance fluctuations near the localized-to-extended transition in narrow Si metal-oxide-semiconductor field-effect transistors
Physical review. B, Condensed matter, 1987-11, Vol.36 (15), p.8015-8031
1987
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Reproducible sputtering and properties of Y-Ba-Cu-O films of various thicknesses (abstract)
Journal of applied physics, 1988-11, Vol.64 (10), p.5913-5913
1988
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Use of a Field Effect Transistor to Study Phototransport Properties of a-Si:H
MRS proceedings, 1993, Vol.297, Article 883
1993
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Exploration of Amorphous Silicon Thin Film Transistor Degradation with Thermal Anneal
MRS proceedings, 1993, Vol.297, Article 895
1993
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Reactive Ion Etched MO/CR Source-Drain Metallization for Amorphous Silicon Thin Film Transistors
MRS proceedings, 1991, Vol.219, Article 357
1991
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Nonmonotonic Variations of the Conductance with Electron Density in ∼70-nm-Wide Inversion Layers
Physical review letters, 1984-01, Vol.52 (3), p.224-227
1984
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Nonmonotomic variations of the conductance with electron density in ∼70-nm-wide inversion layers
Physical review letters, 1984, Vol.52 (3), p.224-227
1984
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Reproductible sputtering and properties of Y-Ba-Cu-O films of various thicknesses
Journal of applied physics, 1988, Vol.64 (11), p.6388-6391
1988
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A Mo Gate Submicron MOS Process Using Optical Projection Lithography
1986 Symposium on VLSI Technology. Digest of Technical Papers, 1986, p.11-12
1986
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Ambient Use-Condition Models for Reliability Assessment
2006 IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings, 2006, p.299-306
2006
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