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npj quantum information, 2022-08, Vol.8 (1), p.1-7, Article 93
2022
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npj quantum information, 2024-07, Vol.10 (1), p.70-9, Article 70
2024
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Materials for quantum technology, 2024-06, Vol.4 (2), p.25801
2024
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Materials for quantum technology, 2021-12, Vol.1 (4), p.41001
2021
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2020 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD), 2020, p.253-256
2020
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Physical review applied, 2021-07, Vol.16 (1), Article 014018
2021
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Journal of Vacuum Science & Technology B: Microelectronics and Nanometer Structures, 2013-11, Vol.31 (6), p.61203
2013
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Physical review applied, 2024-05, Vol.21 (5), Article 054042
2024
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2021 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), 2021, p.27.5.1-27.5.4
2021
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2023 IEEE Symposium on VLSI Technology and Circuits (VLSI Technology and Circuits), 2023, p.1-2
2023
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2021 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), 2021, p.40.5.1-40.5.4
2021
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2021 Symposium on VLSI Technology, 2021, p.1-2
2021
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2021 Symposium on VLSI Technology, 2021, p.1-2
- Radu, I. P.
- Li, R.
- Potocnik, A.
- Ivanov, T.
- Wan, D.
- Kubicek, S.
- Dumoulin Stuyck, N. I.
- Verjauw, J.
- Jussot, J.
- Canvel, Y.
- Godfrin, C.
- Mongillo, M.
- Acharya, R.
- Elsayed, A.
- Shehata, M.
- Piao, X.
- Pacco, A.
- Souriau, L.
- Couet, S.
- Chan, B. T.
- Craninckx, J.
- Parvais, B.
- Grill, A.
- Narasimhamoorthy, S.
- Van Winckel, S.
- Brebels, S.
- Mohiyaddin, F. A.
- Simion, G.
- Govoreanu, B.
2021
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2020 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), 2020, p.38.3.1-38.3.4
2020
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2024 IEEE Silicon Nanoelectronics Workshop (SNW), 2024, p.11-12
2024
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2021 Symposium on VLSI Circuits, 2021, p.1-2
2021
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2019 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), 2019, p.39.5.1-39.5.4
2019
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2020 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), 2020, p.30.2.1-30.2.4
2020
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2019 Silicon Nanoelectronics Workshop (SNW), 2019, p.1-2
2019
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2021 Symposium on VLSI Circuits, 2021, p.1-2
- Radu, I. P.
- Li, R.
- Potocnik, A.
- Ivanov, T.
- Wan, D.
- Kubicek, S.
- Stuyck, N. I. Dumoulin
- Verjauw, J.
- Jussot, J.
- Canvel, Y.
- Godfrin, C.
- Mongillo, M.
- Acharya, R.
- Elsayed, A.
- Shehata, M.
- Piao, X.
- Pacco, A.
- Souriau, L.
- Couet, S.
- Chan, B. T.
- Craninckx, J.
- Parvais, B.
- Grill, A.
- Narasimhamoorthy, S.
- Van Winckel, S.
- Brebels, S.
- Mohiyaddin, F. A.
- Simion, G.
- Govoreanu, B.
2021
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Japanese Journal of Applied Physics, 2018-04, Vol.57 (4S), p.4
- Wan, Danny
- Manfrini, Mauricio
- Vaysset, Adrien
- Souriau, Laurent
- Wouters, Lennaert
- Thiam, Arame
- Raymenants, Eline
- Sayan, Safak
- Jussot, Julien
- Swerts, Johan
- Couet, Sebastien
- Rassoul, Nouredine
- Gavan, Khashayar Babaei
- Paredis, Kristof
- Huyghebaert, Cedric
- Ercken, Monique
- Wilson, Christopher J.
- Mocuta, Dan
- Radu, Iuliana P.
2018
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