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2011
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Microelectronics and reliability, 2011, Vol.51 (9-11), p.1525-1529
2011
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Microelectronics and reliability, 2010-09, Vol.50 (9), p.1267-1272
2010
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Microelectronics and reliability, 2010, Vol.50 (9-11), p.1267-1272
2010
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2010 17th IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits, 2010, p.1-6
2010
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2010 17th IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits, 2010, p.1-5
2010
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2012 19th IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits, 2012, p.1-5
2012
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