Sortiert nach
Einfacher Volltextzugriff von (fast) überall
Installieren Sie die LibKey Nomad-Browsererweiterung und erhalten Sie von vielen Webseiten einfachen Zugriff auf lizenzierte Volltexte oder Open Access Publikationen. Mehr erfahren...IEEE transactions on multimedia, 2015-04, Vol.17 (4), p.470-484
2015
Volltextzugriff (PDF)
2023 IEEE 41st International Conference on Computer Design (ICCD), 2023, p.614-622
2023
Volltextzugriff (PDF)
2023 IEEE 32nd Asian Test Symposium (ATS), 2023, p.1-6
2023
Volltextzugriff (PDF)
IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems, 2008-06, Vol.16 (6), p.755-765
2008
Volltextzugriff (PDF)
IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems, 2004-11, Vol.23 (11), p.1550-1565
2004
Volltextzugriff (PDF)
2017 IEEE 26th Asian Test Symposium (ATS), 2017, p.70-75
2017
Volltextzugriff (PDF)
2022 IEEE 31st Asian Test Symposium (ATS), 2022, p.x-x
2022
Volltextzugriff (PDF)
2022 IEEE International Test Conference (ITC), 2022, p.73-81
2022
Volltextzugriff (PDF)
2021 IEEE 30th Asian Test Symposium (ATS), 2021, p.133-138
2021
Volltextzugriff (PDF)
2022 IEEE 31st Asian Test Symposium (ATS), 2022, p.144-149
2022
Volltextzugriff (PDF)
IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems, 2013-02, Vol.21 (2), p.329-341
2013
Volltextzugriff (PDF)
BioMed research international, 2011-01, Vol.2011 (1), p.304236
2011
Volltextzugriff (PDF)
IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems, 2003-06, Vol.22 (6), p.756-769
2003
Volltextzugriff (PDF)
2021 IEEE International Test Conference (ITC), 2021, p.10-19
2021
Volltextzugriff (PDF)
2013 22nd Asian Test Symposium, 2013, p.265-270
2013
Volltextzugriff (PDF)
2023 IEEE 36th International System-on-Chip Conference (SOCC), 2023, p.1-6
2023
Volltextzugriff (PDF)
2020 IEEE 29th Asian Test Symposium (ATS), 2020, p.1-6
2020
Volltextzugriff (PDF)
2009 Asian Test Symposium, 2009, p.343-348
2009
Volltextzugriff (PDF)
2009 IEEE International Conference on IC Design and Technology, 2009, p.63-66
2009
Volltextzugriff (PDF)
2024 International VLSI Symposium on Technology, Systems and Applications (VLSI TSA), 2024, p.1-4
2024
Volltextzugriff (PDF)
Proceedings - ACM IEEE Design Automation Conference, 2002, p.566-569
2002
Volltextzugriff (PDF)
2010 IEEE 25th International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems, 2010, p.340-348
2010
Volltextzugriff (PDF)
Proceedings - ACM IEEE Design Automation Conference, 2002, p.371-374
2002
Volltextzugriff (PDF)
2008 17th Asian Test Symposium, 2008, p.131-136
2008
Volltextzugriff (PDF)
2011 48th ACM/EDAC/IEEE Design Automation Conference (DAC), 2011, p.771-776
2011
Volltextzugriff (PDF)
Suchergebnisse filtern
Filter anzeigenNur zeigen
Publikationsform
Erscheinungsjahr
n.n
n.n
Thema
- Science & Technology
- Technology
- Engineering
- Engineering, Electrical & Electronic
- Computer Science
- Computer Science, Hardware & Architecture
- Timing
- Circuit Faults
- Circuit Testing
- Delay
- Delay Effects
- Clocks
- Computer Science, Theory & Methods
- Hardware
- Analytical Models
- Computer Science, Software Engineering
- Exact Sciences And Technology
- Fault Diagnosis
- Applied Sciences
- Automation & Control Systems
Kollektion
Zeitschrift / Serie
- Biomed Research International
- Ieee Transactions On Computer-Aided Design Of Integrated Circuits And Systems
- Ieee Transactions On Geoscience And Remote Sensing
- Ieee Transactions On Very Large Scale Integration
- Ieee Design & Test Of Computers
- Ieee Design And Test
- Ieee Transactions On Multimedia
- Journal Of Biomedicine & Biotechnology
- Journal Of Biomedicine And Biotechnology
- Journal Of Circuits, Systems, And Computers
Neu hinzugefügt