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IEEE transactions on semiconductor manufacturing, 2009-02, Vol.22 (1), p.51-58
2009
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2008 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures, 2008, p.3-7
2008
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2007 IEEE International Electron Devices Meeting, 2007, p.569-571
2007
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2006 8th International Conference on Solid-State and Integrated Circuit Technology Proceedings, 2006, p.788-791
2006
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2003 Symposium on VLSI Circuits. Digest of Technical Papers (IEEE Cat. No.03CH37408), 2003, p.85-88
2003
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Materials characterization, 2020-06, Vol.164, p.110323, Article 110323
2020
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