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Promising N-Type FinFET devices without or with cobalt-silicide applied to the gate
2013 IEEE 5th International Nanoelectronics Conference (INEC), 2013, p.242-244
2013
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The adjustment of threshold voltage on P-Type FinFET devices
2013 IEEE 5th International Nanoelectronics Conference (INEC), 2013, p.248-250
2013
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The side effects on N-Type FinFET Devices
2013 IEEE 5th International Nanoelectronics Conference (INEC), 2013, p.483-485
2013
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Body effect of SiGe and CESL strained nano-node NMOSFETs on (100) silicon substrate
2013 International Symposium on Next-Generation Electronics, 2013, p.379-382
2013
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Probing moving charge distribution of biaxial and CESL strained PMOSFETs with body effect
2013 International Symposium on Next-Generation Electronics, 2013, p.375-378
2013
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