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VLSI Design, 2008-01, Vol.2008 (1), p.202-209
2008
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Enhanced double-histogram test
Electronics letters, 2009, Vol.45 (7), p.349-351
2009
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Journal of electronic testing, 2010-02, Vol.26 (1), p.47-58
2010
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Enhanced double-histogram test
Electronics letters, 2009-03, Vol.45 (7), p.1-1
2009
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2023 IEEE European Test Symposium (ETS), 2023, p.1-6
2023
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VLSI design (Yverdon, Switzerland), 2008, Vol.2008 (2008), p.1-8
2008
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APCCAS 2008 - 2008 IEEE Asia Pacific Conference on Circuits and Systems, 2008, p.1252-1255
2008
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2009 IEEE 15th International Mixed-Signals, Sensors, and Systems Test Workshop, 2009, p.1-6
2009
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2008 10th International Workshop on Signal Processing for Space Communications, 2008, p.1-4
2008
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Neural regeneration research, 2023-09, Vol.18 (9), p.1917-1924
2023
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Journal of physics. Conference series, 2021-05, Vol.1882 (1), p.12143
2021
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