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Modeling Ion Beam Induced Secondary Electrons
Microscopy and microanalysis, 2015-08, Vol.21 (S3), p.1689-1690
2015
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Polarization Control via He-ion Beam Induced Nanofabrication in Layered Ferroelectric Semiconductors
Microscopy and microanalysis, 2016-07, Vol.22 (S3), p.158-159
2016
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High-Resolution STEM Analysis of Nanoparticle Materials
Microscopy and microanalysis, 2013-08, Vol.19 (S2), p.1438-1439
2013
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Imaging Plasmon Modes in Metallic Nanostructures with Correlated Optical and Electron Microscopy
Microscopy and microanalysis, 2011-07, Vol.17 (S2), p.1638-1639
2011
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Atomistic-Scale Simulations of Defect Formation in Graphene under Noble Gas Ion Irradiation
ACS nano, 2016-09, Vol.10 (9), p.8376-8384
2016
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Maskless Lithography and in situ Visualization of Conductivity of Graphene using Helium Ion Microscopy
Scientific reports, 2015-07, Vol.5 (1), p.11952-11952, Article 11952
2015
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Nanoforging Single Layer MoSe2 Through Defect Engineering with Focused Helium Ion Beams
Scientific reports, 2016-08, Vol.6 (1), p.30481-30481, Article 30481
2016
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Graphene engineering by neon ion beams
Nanotechnology, 2016-03, Vol.27 (12), p.125302-125308
2016
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Polarization Control via He-Ion Beam Induced Nanofabrication in Layered Ferroelectric Semiconductors
ACS applied materials & interfaces, 2016-03, Vol.8 (11), p.7349-7355
2016
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Building with ions: towards direct write of platinum nanostructures using in situ liquid cell helium ion microscopyThis manuscript has been authored by UT-Battelle, LLC, under Contract No. DE-AC0500OR22725 with the U.S. Department of Energy. The U.S. Government is authorized to reproduce and distribute reprints for Government purposes notwithstanding any copyright notation hereon. The Department of Energy will provide public access to these results of federally sponsored research in accordance w
2017-09
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Building with ions: towards direct write of platinum nanostructures using in situ liquid cell helium ion microscopy
Nanoscale, 2017-09, Vol.9 (35), p.12949-12956
2017
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Chemical Changes in Layered Ferroelectric Semiconductors Induced by Helium Ion Beam
Scientific reports, 2017-11, Vol.7 (1), p.16619-7, Article 16619
2017
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Atomistic-Scale Simulations of Defect Formation in Graphene under Noble Gas Ion Irradiation
ACS nano, 2016-08, Vol.10 (9)
2016
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Nanofabrication Limits in Layered Ferroelectric Semiconductors via He-ion Beam
Microscopy and microanalysis, 2017-07, Vol.23 (S1), p.262-263
2017
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Inverse Problem Solution for Quantitative Investigations of Nanocrystals Formation and Growth
Microscopy and microanalysis, 2016-07, Vol.22 (S3), p.794-795
2016
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