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Installieren Sie die LibKey Nomad-Browsererweiterung und erhalten Sie von vielen Webseiten einfachen Zugriff auf lizenzierte Volltexte oder Open Access Publikationen. Mehr erfahren...Hematology, Transfusion and Cell Therapy, 2023-10, Vol.45, p.S741
2023
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IEEE transactions on nuclear science, 2006-02, Vol.53 (1), p.71-77
- Abreu, M.C.
- Aguiar, J.D.
- Almeida, F.G.
- Almeida, P.
- Bento, P.
- Carrico, B.
- Ferreira, M.
- Ferreira, N.C.
- Goncalves, F.
- Leong, C.
- Lopes, F.
- Lousa, P.
- Martins, M.V.
- Matela, N.
- Mendes, P.R.
- Moura, R.
- Nobre, J.
- Oliveira, N.
- Ortigao, C.
- Peralta, L.
- Pereira, R.
- Rego, J.
- Ribeiro, R.
- Rodrigues, P.
- Sampaio, J.
- Santos, A.I.
- Silva, L.
- Silva, J.C.
- Sousa, P.
- Teixeira, I.C.
- Teixeira, J.P.
- Trindade, A.
- Varela, J.
2006
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Hematology, Transfusion and Cell Therapy, 2023-10, Vol.45, p.S741
2023
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Journal of electronic testing, 2005-08, Vol.21 (4), p.349-363
2005
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Journal of electronic testing, 2004-08, Vol.20 (4), p.345-355
2004
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Design, Automation, and Test in Europe: Proceedings of the conference on Design, Automation and Test in Europe - Volume 1; 03-07 Mar. 2003, 2003, p.10994-10994
2003
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Journal of electronic testing, 2002-06, Vol.18 (3), p.285
2002
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Journal of electronic testing, 2001-06, Vol.17 (3-4), p.311
2001
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Proceedings - International Test Conference, 2002, p.814-823
2002
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Journal of electronic testing, 2002-04, Vol.18 (2), p.179
2002
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Journal of electronic testing, 1999-02, Vol.14 (1-2), p.149
1999
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17th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems, 2002. DFT 2002. Proceedings, 2002, p.216-224
2002
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Proceedings International Test Conference 2001 (Cat. No.01CH37260), 2001, p.377-385
2001
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IEEE Symposium Conference Record Nuclear Science 2004, 2004, Vol.6, p.3796-3800 Vol. 6
2004
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IEEE Symposium Conference Record Nuclear Science 2004, 2004, Vol.6, p.3805-3809 Vol. 6
- Santos, A.I.
- Almeida, P.
- Martins, M.V.
- Matela, N.
- Oliveira, N.
- Ferreira, N.C.
- Aguiar, J.D.
- Almeida, F.G.
- Lopes, F.
- Sampaio, J.
- Bento, P.
- Goncalves, F.
- Leong, C.
- Lousa, P.
- Silva, L.
- Teixeira, I.C.
- Teixeira, J.P.
- Abreu, M.C.
- Carrico, B.
- Mendes, P.R.
- Pereira, R.
- Sousa, P.
- Ferreira, M.
- Moura, R.
- Ortigao, C.
- Peralta, L.
- Ribeiro, R.
- Rodrigues, P.
- Silva, J.C.
- Trindade, A.
- Varela, J.
2004
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Proceedings 17th IEEE VLSI Test Symposium (Cat. No.PR00146), 1999, p.326-332
1999
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2011 21st International Conference on Field Programmable Logic and Applications, 2011, p.301-304
2011
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1997 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems, 1997, p.29-37
1997
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Proceedings. 1996 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems, 1996, p.96-104
1996
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Proceedings. 10th IEEE International On-Line Testing Symposium, 2004, p.5-10
2004
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11th IEEE International On-Line Testing Symposium, 2005, p.281-286
2005
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Proceedings IEEE European Test Workshop, 2000, p.99-104
2000
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IEEE European Test Workshop, 2001, 2001, p.99-105
2001
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The FEBS journal, 2010-02, Vol.277 (3), p.749-760
- van Eunen, Karen
- Bouwman, Jildau
- Daran-Lapujade, Pascale
- Postmus, Jarne
- Canelas, André B
- Mensonides, Femke I.C
- Orij, Rick
- Tuzun, Isil
- van den Brink, Joost
- Smits, Gertien J
- van Gulik, Walter M
- Brul, Stanley
- Heijnen, Joseph J
- de Winde, Johannes H
- Teixeira de Mattos, M. Joost
- Kettner, Carsten
- Nielsen, Jens
- Westerhoff, Hans V
- Bakker, Barbara M
2010
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The FEBS journal, 2014-02, Vol.281 (3), p.825-841
2014
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