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2010 IEEE 25th International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems, 2010, p.136-143
2010
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APCCAS 2006 - 2006 IEEE Asia Pacific Conference on Circuits and Systems, 2006, p.113-118
2006
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IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems, 2010-02, Vol.18 (2), p.319-324
2010
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IEEE transactions on instrumentation and measurement, 2009-07, Vol.58 (7), p.2300-2315
2009
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Journal of electronic testing, 2016-04, Vol.32 (2), p.111-123
2016
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IEEE transactions on instrumentation and measurement, 2005-06, Vol.54 (3), p.996-1002
2005
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2010 IEEE Asia Pacific Conference on Circuits and Systems, 2010, p.56-59
2010
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2019 International 3D Systems Integration Conference (3DIC), 2019, p.1-3
2019
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2009 IEEE Circuits and Systems International Conference on Testing and Diagnosis, 2009, p.1-4
2009
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Journal of electronic science and technology of China, 2009, Vol.7 (4), p.370-374
2009
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2019 2nd International Conference on Communication Engineering and Technology (ICCET), 2019, p.139-142
2019
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Journal of electronic testing, 2004-02, Vol.20 (1), p.39-44
2004
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