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Current oncology (Toronto), 2018-02, Vol.25 (1), p.e99-102
2018
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Current oncology (Toronto), 2015-04, Vol.22 (2), p.e128-132
2015
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Microelectronic engineering, 2008-10, Vol.85 (10), p.2150-2154
2008
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Microelectronics and reliability, 2007-09, Vol.47 (9), p.1506-1511
2007
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Journal of medical virology, 2003-05, Vol.70 (1), p.20-26
2003
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Journal of veterinary medical science, 2006-04, Vol.68 (4), p.367-371
2006
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2009 Annual International Conference of the IEEE Engineering in Medicine and Biology Society, 2009-01, Vol.2009, p.6131-6134
2009
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Applied radiation and isotopes, 1999-08, Vol.51 (2), p.137-143
1999
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European journal of cancer (1990), 1995-10, Vol.31 (11), p.1847-1850
1995
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Proceedings of the IEEE 2003 International Interconnect Technology Conference (Cat. No.03TH8695), 2003, p.207-209
2003
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Proceedings of the National Academy of Sciences - PNAS, 1981-03, Vol.78 (3), p.1878-1881
1981
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Proceedings of the IEEE 2004 International Interconnect Technology Conference (IEEE Cat. No.04TH8729), 2004, p.199-201
2004
Volltextzugriff (PDF)

Proceedings of the IEEE 2004 International Interconnect Technology Conference (IEEE Cat. No.04TH8729), 2004, p.24-26
2004
Volltextzugriff (PDF)

1999 4th International Symposium on Plasma Process-Induced Damage (IEEE Cat. No.99TH8395), 1999, p.41-44
1999
Volltextzugriff (PDF)

1999 4th International Symposium on Plasma Process-Induced Damage (IEEE Cat. No.99TH8395), 1999, p.84-87
1999
Volltextzugriff (PDF)

Proceedings of the IEEE 2000 International Interconnect Technology Conference (Cat. No.00EX407), 2000, p.273-275
2000
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Journal of cleaner production, 2021-05, Vol.295, p.126424, Article 126424
2021
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