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2019
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Semiconductor science and technology, 2023-07, Vol.38 (7), p.75009
2023
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IEEE transactions on electron devices, 2021-05, Vol.68 (5), p.2220-2225
2021
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IEEE electron device letters, 2023-11, Vol.44 (11), p.1821-1824
2023
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IEEE microwave and wireless technology letters (Print), 2023-06, Vol.33 (6), p.839-842
2023
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IEEE electron device letters, 2013-10, Vol.34 (10), p.1313-1315
2013
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Applied physics letters, 2014-07, Vol.105 (1)
2014
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Nano letters, 2019-12, Vol.19 (12), p.8533-8538
2019
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2023 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2023, p.1-4
2023
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Journal of applied physics, 2014-08, Vol.116 (5)
2014
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Journal of applied physics, 2015-09, Vol.118 (9)
2015
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Journal of Vacuum Science & Technology B: Microelectronics and Nanometer Structures, 2014-07, Vol.32 (4)
2014
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Microelectronics and reliability, 2014-12, Vol.54 (12), p.2682-2687
2014
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2016 IEEE MTT-S International Microwave Symposium (IMS), 2016, p.1-3
2016
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2021 IEEE MTT-S International Microwave Filter Workshop (IMFW), 2021, p.262-264
2021
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IEEE transactions on electron devices, 2008-08, Vol.55 (8), p.1816-1823
2008
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IEEE electron device letters, 2024-10, p.1-1
2024
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1, 2024
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2021 IEEE BiCMOS and Compound Semiconductor Integrated Circuits and Technology Symposium (BCICTS), 2021, p.1-4
2021
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2022 IEEE BiCMOS and Compound Semiconductor Integrated Circuits and Technology Symposium (BCICTS), 2022, p.120-123
2022
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IEEE electron device letters, 2000-02, Vol.21 (2), p.70-72
2000
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IEEE microwave and wireless technology letters (Print), 2023-05, p.1-4
2023
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2021 IEEE BiCMOS and Compound Semiconductor Integrated Circuits and Technology Symposium (BCICTS), 2021, p.1-4
2021
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Journal of the Electrochemical Society, 2002-02, Vol.149 (2), p.G143
2002
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IEEE transactions on electron devices, 2001-05, Vol.48 (5), p.845-851
2001
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