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Survey review - Directorate of Overseas Surveys, 2002-04, Vol.36 (284), p.423-431
2002
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2004 IEEE International Reliability Physics Symposium. Proceedings, 2004, p.607-608
2004

2001 International Symposium on VLSI Technology, Systems, and Applications. Proceedings of Technical Papers (Cat. No.01TH8517), 2001, p.271-274
2001









The Science of the total environment, 2019-11, Vol.693, p.133571-133571, Article 133571
2019
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