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Journal of vacuum science & technology. B, Microelectronics and nanometer structures processing, measurement and phenomena, 2008-11, Vol.26 (6), p.2322-2330
2008
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Journal of vacuum science & technology. B, Microelectronics and nanometer structures processing, measurement and phenomena, 2008-12, Vol.26 (6), p.2322-2330
2008
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Remotely Sensed Data Characterization, Classification, and Accuracies, 2016, p.377-408
2016
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