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2018
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- Bommels, J.
- Loo, R.
- Rosseel, E.
- Porret, C.
- Shimura, Y.
- Akula, A.
- Mannaert, G.
- Choudhury, S.
- Brissonneau, V.
- Dupuy, E.
- Sarkar, T.
- Vergel, N. Franchina
- Peter, A.
- Jourdan, N.
- Soulie, J.P.
- Vandersmissen, K.
- Sebaai, F.
- Gowda, P. Puttarame
- Lai, K.
- Mingardi, A.
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- Dhave, K.
- Chan, B. T.
- Marquez, A. Sepulveda
- Langer, R.
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- Sanchez, E. Altamirano
- Devriendt, K.
- Delgadillo, P. Rincon
- Lazzarino, F.
- Mitard, J.
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- Grieten, E.
- Batuk, D.
- Chen, Y-F.
- Verbeek, F.
- Holsteyns, F.
- Subramanian, S.
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Solid state phenomena, 2003-05, Vol.92, p.161-164
2003
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2020 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), 2020, p.32.2.1-32.2.4
- Tokei, Zs
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- Veen, M. Van der
- Adelmann, C.
- Soulie, J. P.
- Boemmels, J.
- Wilson, C.
- Park, S. H.
- Sankaran, K.
- Pourtois, G.
- Sweerts, J.
- Paolillo, S.
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- Mao, M.
- Lazzarino, F.
- Versluijs, J.
- Blanco, V.
- Ercken, M.
- Kesters, E.
- Le, Q-T.
- Holsteyns, F.
- Heylen, N.
- Teugels, L.
- Devriendt, K.
- Struyf, H.
- Morin, P.
- Jourdan, N.
- Elshocht, S. Van
- Ciofi, I.
- Gupta, A.
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2020
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Solid state phenomena, 2016-09, Vol.255, p.357-360
2016
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Solid state phenomena, 2018-08, Vol.282, p.268-272
2018
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ECS transactions, 2017, Vol.80 (2), p.155-162
2017
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ECS transactions, 2017, Vol.80 (2), p.141-146
2017
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ECS transactions, 2013, Vol.58 (6), p.17-23
2013
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Solid state phenomena, 2016-09, Vol.255, p.227-231
2016
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