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Installieren Sie die LibKey Nomad-Browsererweiterung und erhalten Sie von vielen Webseiten einfachen Zugriff auf lizenzierte Volltexte oder Open Access Publikationen. Mehr erfahren...Journal of failure analysis and prevention, 2024-10, Vol.24 (5), p.2210-2220
2024
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2024 IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), 2024, p.1-8
2024
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2023 IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), 2023, p.1-6
2023
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2021 IEEE 17th International Conference on Automation Science and Engineering (CASE), 2021, p.1320-1325
2021
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Microscopy and microanalysis, 2002-08, Vol.8 (S02), p.80-81
2002
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Proceedings of the 21th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), 2014, p.35-38
2014
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Science (American Association for the Advancement of Science), 2019-05, Vol.364 (6441), p.664-667
2019
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Nature (London), 2020-07, Vol.583 (7816), p.369-374
2020
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Electronic device failure analysis, 2023-05, Vol.25 (2), p.16-28
2023
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Physical review. X, 2019-10, Vol.9 (4), p.041014, Article 041014
2019
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Physical review. X, 2020-05, Vol.10 (2), p.021044, Article 021044
2020
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Electronic device failure analysis, 2005-05, Vol.7 (2), p.30-34
2005
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Physical review letters, 2022-03, Vol.128 (11), p.113602-113602, Article 113602
2022
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Physical review research, 2021-03, Vol.3 (1), Article 013252
2021
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Complex systems informatics and modeling quarterly, 2019-07 (19), p.60-74
2019
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