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Installieren Sie die LibKey Nomad-Browsererweiterung und erhalten Sie von vielen Webseiten einfachen Zugriff auf lizenzierte Volltexte oder Open Access Publikationen. Mehr erfahren...The Effects of Hydrogen on the Enhanced Low Dose Rate Sensitivity (ELDRS) of Bipolar Linear Circuits
2008
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IEEE transactions on nuclear science, 2007-12, Vol.54 (6), p.2210-2217
2007
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IEEE transactions on nuclear science, 2007-12, Vol.54 (6), p.2028-2036
2007
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IEEE transactions on power systems, 2004-02, Vol.19 (1), p.139-143
2004
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IEEE transactions on nuclear science, 2008-12, Vol.55 (6), p.3280-3287
2008
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Proceedings of the IEEE, 2005-05, Vol.93 (5), p.947-955
2005
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IEEE transactions on nuclear science, 2008-12, Vol.55 (6), p.3032-3038
2008
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IEEE transactions on nuclear science, 2007-12, Vol.54 (6), p.2092-2099
2007
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IEEE transactions on nuclear science, 2008-12, Vol.55 (6), p.3515-3522
2008
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IEEE transactions on nuclear science, 2005-12, Vol.52 (6), p.2583-2590
2005
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Thin solid films, 2013-07, Vol.539, p.342-344
2013
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IEEE transactions on power systems, 2004-02, Vol.19 (1), p.81-87
2004
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IEEE transactions on nuclear science, 2003-12, Vol.50 (6), p.1852-1859
2003
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IEEE transactions on power systems, 2002-02, Vol.17 (1), p.7-12
2002
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IEEE transactions on education, 2009-02, Vol.52 (1), p.31-38
2009
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IEEE transactions on nuclear science, 2009-12, Vol.56 (6), p.3196-3202
2009
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IEEE transactions on power delivery, 2009-07, Vol.24 (3), p.1616
2009
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IEEE transactions on nuclear science, 2009-12, Vol.56 (6), p.3408-3414
2009
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IEEE transactions on power delivery, 2009-07, Vol.24 (3), p.1616-1622
2009
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The Effects of Aging and Hydrogen on the Radiation Response of Gated Lateral PNP Bipolar Transistors
2009
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IEEE transactions on nuclear science, 2010-02, Vol.57 (1), p.258-265
2010
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IEEE transactions on nuclear science, 2006-12, Vol.53 (6), p.3449-3454
2006
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ISCAS 2001. The 2001 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (Cat. No.01CH37196), 2001, Vol.3, p.205-208 vol. 2
2001
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2007 IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings. 45th Annual, 2007, p.582-583
2007
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IEEE transactions on nuclear science, 2006, Vol.53 (6), p.3449-3454
2006
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