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2023
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IEEE transactions on electron devices, 2022-12, Vol.69 (12), p.7173-7179
- Veloso, A.
- Jourdain, A.
- Radisic, D.
- Chen, R.
- Arutchelvan, G.
- O'Sullivan, B.
- Arimura, H.
- Stucchi, M.
- De Keersgieter, A.
- Hosseini, M.
- Hopf, T.
- D'have, K.
- Wang, S.
- Dupuy, E.
- Mannaert, G.
- Vandersmissen, K.
- Iacovo, S.
- Marien, P.
- Choudhury, S.
- Schleicher, F.
- Sebaai, F.
- Oniki, Y.
- Zhou, X.
- Gupta, A.
- Schram, T.
- Briggs, B.
- Lorant, C.
- Rosseel, E.
- Hikavyy, A.
- Loo, R.
- Geypen, J.
- Batuk, D.
- Martinez, G. T.
- Soulie, J. P.
- Devriendt, K.
- Chan, B. T.
- Demuynck, S.
- Hiblot, G.
- Van der Plas, G.
- Ryckaert, J.
- Beyer, G.
- Litta, E. Dentoni
- Beyne, E.
- Horiguchi, N.
2022
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Electronics letters, 2014-11, Vol.50 (23), p.1745-1747
2014
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2023 IEEE Symposium on VLSI Technology and Circuits (VLSI Technology and Circuits), 2023, p.1-2
2023
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2023 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2023, p.1-7
2023
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Solid-state electronics, 2014-10, Vol.100, p.71-78
2014
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2022 IEEE Symposium on VLSI Technology and Circuits (VLSI Technology and Circuits), 2022, p.284-285
- Veloso, A.
- Jourdain, A.
- Radisic, D.
- Chen, R.
- Arutchelvan, G.
- O'Sullivan, B.
- Arimura, H.
- Stucchi, M.
- Keersgieter, A. De
- Hosseini, M.
- Hopf, T.
- D'Have, K.
- Wang, S.
- Dupuy, E.
- Mannaert, G.
- Vandersmissen, K.
- Iacovo, S.
- Marien, P.
- Choudhury, S.
- Schleicher, F.
- Sebaai, F.
- Oniki, Y.
- Zhou, X.
- Gupta, A.
- Schram, T.
- Briggs, B.
- Lorant, C.
- Rosseel, E.
- Hikavyy, A.
- Loo, R.
- Geypen, J.
- Batuk, D.
- Martinez, G. T.
- Soulie, J. P.
- Devriendt, K.
- Chan, B. T.
- Demuynck, S.
- Hiblot, G.
- der Plas, G. Van
- Ryckaert, J.
- Beyer, G.
- Litta, E. Dentoni
- Beyne, E.
- Horiguchi, N.
2022
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Solid-state electronics, 2015-09, Vol.111, p.188-195
2015
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2023 International Electron Devices Meeting (IEDM), 2023, p.1-4
2023
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2022 International Electron Devices Meeting (IEDM), 2022, p.23.4.1-23.4.4
2022
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2021 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), 2021, p.22.4.1-22.4.4
2021
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Solid-state electronics, 2015-05, Vol.107, p.1-7
2015
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2021 Symposium on VLSI Technology, 2021, p.1-2
2021
Volltextzugriff (PDF)
2021 Symposium on VLSI Technology, 2021, p.1-2
- Veloso, A.
- Jourdain, A.
- Hiblot, G.
- Schleicher, F.
- D'have, K.
- Sebaai, F.
- Radisic, D.
- Loo, R.
- Hopf, T.
- De Keersgieter, A.
- Arimura, H.
- Eneman, G.
- Favia, P.
- Geypen, J.
- Arutchelvan, G.
- Chasin, A.
- Jang, D.
- Nyns, L.
- Rosseel, E.
- Hikavyy, A.
- Mannaert, G.
- Chan, B. T.
- Devriendt, K.
- Demuynck, S.
- Plas, G. Van der
- Ryckaert, J.
- Beyer, G.
- Litta, E. Dentoni
- Beyne, E.
- Horiguchi, N.
2021
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2019 22nd European Microelectronics and Packaging Conference & Exhibition (EMPC), 2019, p.1-4
2019
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EUROSOI-ULIS 2015: 2015 Joint International EUROSOI Workshop and International Conference on Ultimate Integration on Silicon, 2015, p.301-304
2015
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2014 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD), 2014, p.101-104
2014
Volltextzugriff (PDF)
EUROSOI-ULIS 2015: 2015 Joint International EUROSOI Workshop and International Conference on Ultimate Integration on Silicon, 2015, p.49-52
2015
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2018 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), 2018, p.17.7.1-17.7.4
2018
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45th European Conference on Optical Communication (ECOC 2019), 2019, p.87
2019
Volltextzugriff (PDF)
Science (American Association for the Advancement of Science), 2018-09, Vol.361 (6407), p.1122-1126
2018
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Nature methods, 2020-03, Vol.17 (3), p.279-282
2020
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2014 44th European Solid State Device Research Conference (ESSDERC), 2014, p.286-289
2014
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