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2001
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Applied physics letters, 2001-05, Vol.78 (22), p.3451-3453
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2000
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Microelectronics and reliability, 2004-02, Vol.44 (2), p.195-205
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Stress-Induced Phenomona in Metallization (AIP Conference Proceedings Volume 945), 2007, Vol.945, p.56-65
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2007 IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings. 45th Annual, 2007, p.122-127
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2003 IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings, 2003. 41st Annual, 2003, p.173-177
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MRS proceedings, 2000, Vol.612, Article D2.8.1
2000
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