Sortiert nach
Einfacher Volltextzugriff von (fast) überall
Installieren Sie die LibKey Nomad-Browsererweiterung und erhalten Sie von vielen Webseiten einfachen Zugriff auf lizenzierte Volltexte oder Open Access Publikationen. Mehr erfahren...Journal of electronic testing, 2022-02, Vol.38 (1), p.21-38
2022
Volltextzugriff (PDF)
Journal of Neuroendovascular Therapy, 2022, Vol.16(4), pp.187-191
2022
Volltextzugriff (PDF)
Journal of Neuroendovascular Therapy, 2021, Vol.15(4), pp.228-232
2021
Volltextzugriff (PDF)
Journal of Neuroendovascular Therapy, 2020, Vol.14(3), pp.90-95
2020
Volltextzugriff (PDF)
IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems, 2014-07, Vol.33 (7), p.1056-1066
2014
Volltextzugriff (PDF)
2022 IEEE 31st Asian Test Symposium (ATS), 2022, p.37-42
2022
Volltextzugriff (PDF)
2020 IEEE 29th Asian Test Symposium (ATS), 2020, p.1-2
2020
Volltextzugriff (PDF)
2021 IEEE International Test Conference (ITC), 2021, p.364-373
2021
Volltextzugriff (PDF)
Journal of electronic testing, 2016-10, Vol.32 (5), p.601-609
2016
Volltextzugriff (PDF)
Journal of Neuroendovascular Therapy, 2018, Vol.12(10), pp.503-506
2018
Volltextzugriff (PDF)
Journal of Neuroendovascular Therapy, 2017, Vol.11(12), pp.634-639
2017
Volltextzugriff (PDF)
2019 IEEE 13th International Conference on ASIC (ASICON), 2019, p.1-4
2019
Volltextzugriff (PDF)
2012 IEEE International Test Conference, 2012, p.1-8
2012
Volltextzugriff (PDF)
IEICE Electronics Express, 2023-01, Vol.20 (1), p.20220470-20220470, Article 19.20220470
2023
Volltextzugriff (PDF)
IEICE Transactions on Information and Systems, 2011/06/01, Vol.E94.D(6), pp.1216-1226
2011
Volltextzugriff (PDF)
Clinical journal of gastroenterology, 2011-12, Vol.4 (6), p.407-411
2011
Volltextzugriff (PDF)
IEICE transactions on fundamentals of electronics, communications and computer sciences, 2010, Vol.E93-A (7), p.1309-1318
2010
Volltextzugriff (PDF)
2023 IEEE International Test Conference (ITC), 2023, p.47-55
2023
Volltextzugriff (PDF)
Nō shinkei geka, 2019-12, Vol.47 (12), p.1239
2019
Volltextzugriff (PDF)
2021 28th IEEE International Conference on Electronics, Circuits, and Systems (ICECS), 2021, p.1-6
2021
Volltextzugriff (PDF)
2009 Asian Test Symposium, 2009, p.151-156
2009
Volltextzugriff (PDF)
Journal of Neuroendovascular Therapy, 2021, pp.oa.2021-0043
2021
Volltextzugriff (PDF)
2016 13th IEEE International Conference on Solid-State and Integrated Circuit Technology (ICSICT), 2016, p.741-743
2016
Volltextzugriff (PDF)
2020 IEEE 15th International Conference on Solid-State & Integrated Circuit Technology (ICSICT), 2020, p.1-4
2020
Volltextzugriff (PDF)
2021 IEEE 30th Asian Test Symposium (ATS), 2021, p.139-140
2021
Volltextzugriff (PDF)
Suchergebnisse filtern
Filter anzeigenNur zeigen
Publikationsform
Erscheinungsjahr
n.n
n.n
Thema
- Science & Technology
- Technology
- Engineering
- Engineering, Electrical & Electronic
- Computer Science
- Computer Science, Hardware & Architecture
- Circuit Faults
- Circuit Testing
- Linearity
- Delay
- Circuits
- Semiconductor Device Measurement
- Algorithms
- Clocks
- Testing
- Built-In Self-Test
- Computer Science, Theory & Methods
- Frequency Measurement
- Histograms
- Life Sciences & Biomedicine
Kollektion
- IEEE Xplore
- Free E-Journal (出版社公開部分のみ）
- ACM Digital Library
- IngentaConnect_期刊（NSTL购买）
- MEDLINE
- SpringerLINK Contemporary (Konsortium Baden-Württemberg)
- Ebook Central Perpetual and DDA
- eBooks on EBSCOhost
- IngentaConnect Journals
- SpringerLink Journals - AutoHoldings
- Elsevier ScienceDirect Journals Complete
- Publisher website
- Wiley Online Library Journals
- Elsevier Journal Backfiles on ScienceDirect (DFG Nationallizenzen)
- Journals@Ovid Ovid Full Text
Zeitschrift / Serie