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IEEE electron device letters, 1997-05, Vol.18 (5), p.206-208
1997
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IEEE transactions on electron devices, 1996-01, Vol.43 (1), p.90-96
1996
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IEEE transactions on electron devices, 1998-07, Vol.45 (7), p.1487-1493
1998
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IEEE transactions on electron devices, 1997-01, Vol.44 (1), p.129-138
1997
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IEEE transactions on electron devices, 2000-03, Vol.47 (3), p.643-645
2000
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IEEE transactions on electron devices, 1998-01, Vol.45 (1), p.179-186
1998
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IEEE transactions on electron devices, 1996-08, Vol.43 (8), p.1264-1273
1996
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IEEE transactions on electron devices, 1997-07, Vol.44 (7), p.1172-1173
1997
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IEEE transactions on electron devices, 1998-02, Vol.45 (2), p.502-511
1998
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IEEE electron device letters, 1997-05, Vol.18 (5), p.200-202
1997
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IEEE transactions on device and materials reliability, 2005-09, Vol.5 (3), p.434-434
2005
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Electronics letters, 1993, Vol.29 (21), p.1894-1896
1993
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Proceedings of International Electron Devices Meeting, 1995, p.933-936
1995
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