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Microelectronics and reliability, 2022-07, Vol.134, p.114551, Article 114551
2022
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2020 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT), 2020, p.1-6
2020
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2023 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT), 2023, p.1-6
2023
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2024 IEEE European Test Symposium (ETS), 2024, p.1-4
2024
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2021 16th International Conference on Design & Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era (DTIS), 2021, p.1-4
2021
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2023 IEEE European Test Symposium (ETS), 2023, p.1-6
2023
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20th Iranian Conference on Electrical Engineering (ICEE2012), 2012, p.188-193
2012
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The 16th CSI International Symposium on Computer Architecture and Digital Systems (CADS 2012), 2012, p.99-103
2012
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